主要功能：

自动完成多路硅微条探测器中多条探测单元的I-V特性、C-V特性、击穿特性等参数测量，无需人工一点一点的测量。其主要任务是快速高效地甄别多路硅微条探测性能，从而优化工艺，提高探测器性能，更好的服务于核物理实验。 

服务内容：

1）可进行器件的常规电学性能测试：伏-安特性（I-V）、电容-电压（C-V）特性、反向电阻、击穿电压等。 

2）可对部分高压器件进行高压电学性能测试：最大电压1000V； 

3）可完成多至48路的硅条的C-V、I-V、脉冲扫描、击穿测试等参数的同时自动测量，电压200V以下，电流分辨在fA级别。

主要技术指标： 

1.小电流i-v ： 超低漏电流（fA），最 大电压200V，最大电流1A； 

2.高电压I-V ： 最大电压1000V； 

3.通用I-V ： 适合于大多数参数测试； 

4.c-v单元： 能够在1MHz下测量10pF电 容，准确度达1%。